硬盤(pán)驗(yàn)證器功能介紹
硬盤(pán)驗(yàn)證器綠色版可以提供有關(guān)壞扇區(qū)的詳細(xì)信息，以便您可以嘗試修復(fù)它們。您的硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器是以塊為單位(扇區(qū))寫(xiě)入數(shù)據(jù)，在每次硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器更新扇區(qū)時(shí)，它還將在更新扇區(qū)數(shù)據(jù)后立即存儲(chǔ)校驗(yàn)和。當(dāng)從硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器讀取扇區(qū)時(shí)，扇區(qū)校驗(yàn)和應(yīng)與扇區(qū)數(shù)據(jù)匹配。如果校驗(yàn)和不匹配，硬盤(pán)會(huì)在寫(xiě)入操作期間識(shí)別為出現(xiàn)問(wèn)題 – 該事件稱為壞扇區(qū)。在寫(xiě)入操作或硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器故障期間，出現(xiàn)壞扇區(qū)的原因有很多，如電源故障等。
硬盤(pán)驗(yàn)證器為您提供了一種查看是否存在壞扇區(qū)的方法，因此您可以通過(guò)覆蓋它來(lái)清除所謂的壞扇區(qū)。
如果出現(xiàn)了因?yàn)殡娫垂收蠈?dǎo)致的壞扇區(qū)，則“讀取 + 擦除損壞 + 讀取”測(cè)試將是清除壞扇區(qū)的最快方法。
如果因?yàn)轵?qū)動(dòng)器出現(xiàn)問(wèn)題導(dǎo)致的壞扇區(qū)，則應(yīng)在備份數(shù)據(jù)后選擇“寫(xiě)入 + 驗(yàn)證”測(cè)試。注意，此測(cè)試將清除磁盤(pán)上的所有數(shù)據(jù)，請(qǐng)慎重使用。
所有測(cè)試都會(huì)形成日志，您可復(fù)制后供日后使用。
硬盤(pán)驗(yàn)證器提供以下四種可供選擇的測(cè)試：
– 讀取：將掃描整個(gè)硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器表面以查找壞扇區(qū)。
– 讀取 + 擦除損壞 + 讀?。簩呙枵麄€(gè)硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器表面以查找壞扇區(qū)，如果發(fā)現(xiàn)壞扇區(qū)，將覆蓋它們，并再次讀取以確保寫(xiě)入成功。
– 讀取 + 寫(xiě)入 + 驗(yàn)證 + 恢復(fù)：程序?qū)⑾虼疟P(pán)寫(xiě)入測(cè)試模式，驗(yàn)證模式是否已成功寫(xiě)入，然后還原原始數(shù)據(jù)。
– 寫(xiě)入 + 驗(yàn)證：程序?qū)⑾虼疟P(pán)寫(xiě)入測(cè)試模式并驗(yàn)證模式是否已成功寫(xiě)入(慎用，原始數(shù)據(jù)將會(huì)丟失)。
硬盤(pán)驗(yàn)證器軟件特色
易于使用的界面
所有信息都顯示在應(yīng)用程序的主窗口中，共分為四大功能，只需選擇功能，并單擊開(kāi)始即可
體積小
硬盤(pán)驗(yàn)證器體積不到100k，無(wú)需安裝，不占空間
測(cè)試日志
所有測(cè)試都會(huì)形成日志，方便您復(fù)制供日后使用
硬盤(pán)驗(yàn)證器更新日志
1、修復(fù)上個(gè)版本的bug
2、優(yōu)化部分功能
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